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    手動高低溫探針臺 HMP-800SC 可測8’’晶圓 HMP-1200SC 可測12’’晶圓

    產品品牌

    上海起南

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    100

    產       地:

    全國

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    品牌:上海起南

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

    手動高低溫探針臺
     
    型號:HMP-800SC 可測8’’晶圓
    型號:HMP-1200SC 可測12’’晶圓
     
    此款手動探針臺系統針對于新一代半導體裝置設計,非常低的噪音和低的漏電流。在這個系統中,屏蔽的樣品腔包含探針和樣品臺全部都在EMI屏蔽環境中。此系統支持超低信號測試,1/f噪音測試,S參量測試,和高速I-V測試在控溫變溫環境中從-60℃到300℃(或者特殊環境到400℃)
    此探針臺系統可選支持高電流和高電壓功率測試。
    HMP-610SC 6’’晶圓可選。
     
    應用:
    溫度范圍:室溫到300℃或-60℃到300
    超低信號I-V測量(fA級)
    各種C-V測量(準靜態C-V, HF-CVRF-CV[sub pF]
    1/f噪音評估
    RTN(自由電子噪音)評估
    高頻噪音評估(到800MHz
    RF測量(到67GHz/S 參數測量
    超高速I-V測量
    擴展應用:
    支持探卡(支持多點位晶圓可靠性測試WLR
    光電子中光接收/發散特性評估應用(如:LEDLDVCSELPD
    高功率元器件測量(200A脈沖,+/-3kV三軸,+/-10kV同軸)
    晶圓的可靠性測試(如:EMTDDBHCINBTIBT

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